FIB

UNIDAD DE MICROMAQUINADO POR HAZ DE IONES FOCALIZADO

Unidad de micro maquinado con haz de iones focalizado (FIB) para preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión (TEM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). El FIB está equipado con una fuente de Iones de Galio (Ga) y puede funcionar en un intervalo de voltajes de aceleración de 5 KV hasta 30 kV.  Por medio de este dispositivo es posible realizar depósitos de películas delgadas de Pt.

El equipo permite:

  • Preparar muestras para microscopía de transmisión
  • Preparar muestras para microscopía de Barrido
  • Estudiar superficies, recuperando electrones secundarios.
  • Micro y nano fabricación